Синтезированы тройные соединения TlInS2 и TlGaSe2, а также твердые растворы (TlInS2)1-х (TlGaSe2)х(х = 0.1, 0.2, 0.4). Методом рентгенофазового анализа определен фазовый состав и параметры решетки образцов этих составов, выращенных методом направленной кристаллизации. При комнатной температуре образцы имели слоистую структуру и моноклинную сингонию с пр. гр. С2ℎ6(С2/с). Установлены закономерности в изменениях свойств с изменением состава образцов. В монокристаллических образцах твердых растворов на основе TlInS2 изучены частотные зависимости действительной (ε׳) и мнимой (ε″) составляющих комплексной диэлектрической проницаемости, тангенса угла диэлектрических потерь (tgδ) и проводимости в переменных электрических полях (σac) поперек слоев кристаллов. Измерения диэлектрических свойств образцов проводили резонансным методом в области частот переменного электрического поля f = 5 × 104–3.5 × 107 Гц. Наблюдаемый гиперболический спад tgδ с ростом частоты свидетельствует о том, что в изученных твердых растворах имеют место потери на проводимость. Установлен прыжковый механизм переноса носителей заряда в (TlInS2)1-х(TlGaSe2)х и определены параметры локализованных состояний в запрещенной зоне образцов: плотность локализованных состояний вблизи уровня Ферми (NF = 5.8 × 1018 – 1.9 × 1019 эВ-1см-3), средние значения времени ( τ = 2 × 10-7 с ) и расстояния прыжков (R = 86 Å), а также энергетический разброс локализованных состояний в окрестности уровня Ферми (∆E = 47 мэВ). Установлено, что изученные параметры (εʹ, εʺ, tgδ и σac) монокристаллов (TlInS2)1-х(TlGaSe2)х (х = 0.1, 0.2, 0.4) увеличиваются с ростом содержания TlGaSe2.
Синтезированы поликристаллы твердых растворов (TlGaSe2)1–x(TlGaS2)x (x = 0–1) и из них методом Бриджмена–Стокбаргера выращены монокристаллы. Изучены диэлектрические свойства приготовленных монокристаллических образцов твердых растворов в переменных электрических поляхчастотой f = 5×104–3.5×107 Гц. Установлены релаксационный характер комплексной диэлектрической проницаемости, природа диэлектрических потерь, а также прыжковый механизм переноса заряда в образцах (TlGaSe2)1–x(TlGaS2)x. Показано, что в образцах (TlGaSe2)1–x(TlGaS2)x с увеличением хпроводимость, среднее расстояние и время прыжков носителей заряда по локализованным состояниям в запрещенной зоне уменьшаются, а энергетический разброс локализованных вблизи уровня Ферми состояний и их концентрация увеличиваются.
Индексирование
Scopus
Crossref
Высшая аттестационная комиссия
При Министерстве образования и науки Российской Федерации