Статьи автора

Анализ высокочистых кадмия, теллура и сурьмы методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой с использованием адекватных образцов сравнения

от 01.05.2025

Показаны возможности учета неспектральных влияний, снижения пределов обнаружения (сmin) и количественного определения (сlim) моделированием матричного состава образцов сравнения (адекватные образцы сравнения – АОС) при инструментальном определении примесей методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой (АЭС ИСП) на примере высокочистых кадмия, теллура и сурьмы. Изучены зависимости относительного стандартного отклонения результата измерения от концентрации лимитируемых примесей (Ag, As, Au, Pb, Sb, Se, Sn и Te) в присутствии разных матриц. Величины сmin и сlim оценены вероятностным и статистическим способами. Применение АОС позволило снизить сmin и сlim в 2–10 раз по сравнению с водными образцами сравнения. С использованием разработанных АЭС ИСП-методик возможен контроль производства высокочистых стратегически важных материалов; методики позволяют определять Ag, As, Au, Pb, Sb, Se, Sn и Te в кадмии, теллуре и сурьме с сlim в диапазоне от n × 10–6 до n × 10–4 мас.%, что удовлетворяет требованиям ТУ к материалам квалификации 3–4N (000–0000).

23 0

АНАЛИЗ ВЫСОКОЧИСТЫХ КАДМИЯ, ТЕЛЛУРА И СУРЬМЫ МЕТОДОМ АТОМНО-ЭМИССИОННОЙ СПЕКТРОМЕТРИИ С ИНДУКТИВНО СВЯЗАННОЙ ПЛАЗМОЙ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ АДЕКВАТНЫХ ОБРАЗЦОВ СРАВНЕНИЯ

от 01.05.2025

Показаны возможности учета неспектральных влияний, снижения пределов обнаружения (c) и количественного определения (c) моделированием матричного состава образцов сравнения (адекватные образцы сравнения – AOC) при инструментальном определении примесей методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой (AЭC ИСП) на примере высокочистых кадмия, теллура и сурьмы. Изучены зависимости относительного стандартного отклонения результата измерения от концентрации лимитируемых примесей (Ag, As, Au, Pb, Sb, Se, Sn и Te) в присутствии разных матриц. Величины c и c оценены вероятностным и статистическим способами. Применение AOC позволило снизить c и c в 2–10 раз по сравнению с водными образцами сравнения. С использованием разработанных AЭC ИСП-методик возможен контроль производства высокочистых стратегически важных материалов; методики позволяют определять Ag, As, Au, Pb, Sb, Se, Sn и Te в кадмии, теллуре и сурьме с c в диапазоне от n × 10 до n × 10 мас.%, что удовлетворяет требованиям ТУ к материалам квалификации 3–4N (000–0000).

7 0

Анализ высокочистых кадмия, теллура и сурьмы методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой с использованием адекватных образцов сравнения

от 15.06.2025

Показаны возможности учета неспектральных влияний, снижения пределов обнаружения (сmin) и количественного определения (сlim) моделированием матричного состава образцов сравнения (адекватные образцы сравнения – АОС) при инструментальном определении примесей методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой (АЭС ИСП) на примере высокочистых кадмия, теллура и сурьмы. Изучены зависимости относительного стандартного отклонения результата измерения от концентрации лимитируемых примесей (Ag, As, Au, Pb, Sb, Se, Sn и Te) в присутствии разных матриц. Величины сmin и сlim оценены вероятностным и статистическим способами. Применение АОС позволило снизить сmin и сlim в 2–10 раз по сравнению с водными образцами сравнения. С использованием разработанных АЭС ИСП-методик возможен контроль производства высокочистых стратегически важных материалов; методики позволяют определять Ag, As, Au, Pb, Sb, Se, Sn и Te в кадмии, теллуре и сурьме с сlim в диапазоне от n × 10–6 до n × 10–4 мас.%, что удовлетворяет требованиям ТУ к материалам квалификации 3–4N (000–0000).

5 0

АНАЛИЗ ВЫСОКОЧИСТЫХ КАДМИЯ, ТЕЛЛУРА И СУРЬМЫ МЕТОДОМ АТОМНО-ЭМИССИОННОЙ СПЕКТРОМЕТРИИ С ИНДУКТИВНО СВЯЗАННОЙ ПЛАЗМОЙ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ АДЕКВАТНЫХ ОБРАЗЦОВ СРАВНЕНИЯ

Номер выпуска 5–6 от 01.05.2025

Показаны возможности учета неспектральных влияний, снижения пределов обнаружения (c) и количественного определения (c) моделированием матричного состава образцов сравнения (адекватные образцы сравнения – AOC) при инструментальном определении примесей методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой (AЭC ИСП) на примере высокочистых кадмия, теллура и сурьмы. Изучены зависимости относительного стандартного отклонения результата измерения от концентрации лимитируемых примесей (Ag, As, Au, Pb, Sb, Se, Sn и Te) в присутствии разных матриц. Величины c и c оценены вероятностным и статистическим способами. Применение AOC позволило снизить c и c в 2–10 раз по сравнению с водными образцами сравнения. С использованием разработанных AЭC ИСП-методик возможен контроль производства высокочистых стратегически важных материалов; методики позволяют определять Ag, As, Au, Pb, Sb, Se, Sn и Te в кадмии, теллуре и сурьме с c в диапазоне от n × 10 до n × 10 мас.%, что удовлетворяет требованиям ТУ к материалам квалификации 3–4N (000–0000).

26 0