Получены образцы особо чистых стекол Ga15Ge10Te75–xIx(x = 0–6 ат. %) с содержанием 31 примесного элемента не более 0.2 ppm. Установлено влияние йода на характеристические температуры, кристаллизационную устойчивость, термическое расширение и плотность стекол. Полученные результаты интерпретированы в рамках структурно-связевого подхода. Разработана методика обработки данных динамической дилатометрии для определения температурной зависимости теплового коэффициента линейного расширения (ТКЛР). Определена температурная зависимость ТКЛР стекол Ga15Ge10Te75–xIx в интервале от 293 до 412 К.
Проведено термодинамическое моделирование систем GaI3–Se и ZnI2–Se методом констант равновесия в температурном интервале 200–500°С. Показано, что равновесная степень превращения йодидов в Ga2Se3 и ZnSe составляет 21 и 0.7٪ соответственно. Основным компонентом паровой фазы в обеих системах является молекулярный йод. Разработан способ получения Ga2Se3, ZnSe, ZnGa2Se4 взаимодействием GaI3 и ZnI2 с селеном в вакуумированном кварцевом реакторе с двумя температурными зонами. Селективное выведение йода из реакционного расплава позволило достичь практического выхода селенидов на уровне 86–90٪ при температуре 450°С. Остаточное содержание йода в полученных соединениях составило 0.2–1 ат.%.
Индексирование
Scopus
Crossref
Высшая аттестационная комиссия
При Министерстве образования и науки Российской Федерации